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XacTorr®(CMX 系列)电容式压力计

更新时间:2026-08-14      点击次数:9

XacTorr®(CMX 系列)电容式压力计


品牌:Brooks Instrument(布鲁克斯),半导体行业主流数字式电容薄膜真空计(Capacitance Manometer),用于直接测量绝对真空压力,不受气体种类影响,广泛用于半导体镀膜、刻蚀、ALD、MOCVD 等工艺Brooks Ins...。

型号区分(按恒温温度)

表格

型号恒温温度典型精度适用场景
CMX0常温(无加热)±0.25% 读数洁净无冷凝气体,普通腔体,经济型
CMX1(CMX45)45℃恒温1‑1000 Torr:±0.15% 读数;<1 Torr:±0.25% 读数CVD、PVD,普通薄膜工艺
CMX2(CMX100)100℃恒温同 CMX1易冷凝前驱体、ALD、MOCVD 金属有机源工艺
CMX3(CMX160)160℃恒温10‑100 Torr:±0.25% 读数高沸点、强冷凝气体、刻蚀腔体

核心规格参数

  1. 全度量程:0.1 / 1 / 2 / 10 / 20 / 100 / 1000 Torr;同时支持 mBar、Pa 单位输出

  2. 传感器:zhuan li Mark‑IV,Inconel 合金耐腐蚀膜片;自带颗粒 / 可凝物沉降区,减少频繁校零,延长寿命Cross Comp...

  3. 动态范围:4 个数量级

  4. 输出接口

    • 模拟:0‑10 Vdc

    • 数字:RS485、DeviceNet、EtherNet/IP

  5. 温控:双区温控,控温精度 ±0.1℃;温度未达标禁止调零(Intelli‑Touch 智能调零),避免误校零

  6. 零点温漂:0.002% FS/℃;满量程温漂:0.02% FS/℃

主要特点

与老款 CMC 系列对比Brooks Ins...

典型应用

半导体设备:PVD/CVD/ 刻蚀 / ALD/MOCVD;真空镀膜;科研真空腔体;需要精确绝对压力测量的工艺。

选型关键点:工艺是否存在可凝气体,以此选择 45/100/160℃加热型号;再确定满量程(Torr)。


XacTorr®(CMX 系列)电容式压力计

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