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低温黑体和大面源黑体

简要描述:低温黑体和大面源黑体产品尤其是黑体源大量的应用于美国系统测试及焦平面探测器测试等领域。

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  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2024-02-23
  • 访  问  量:1555
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详细介绍

品牌其他品牌产地进口
加工定制

低温黑体和大面源黑体美国SBIR红外公司成立于1986年,经过逾20年的发展,已经成为国际上电光测试装备的*,所研发产品尤其是黑体源大量的应用于美国红外系统测试及焦平面探测器测试等领域。其产品性能主要如下:

腔式黑体

低温黑体

大面源黑体



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